刊名全称:IEEE Design & Test ISSN:21682356
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JCR期刊信息
| JCR刊名缩写：IEEE DES TEST |
影响因子(2023) ：1.9 |
| 5年影响因子(2018-2023)：1.9 |
| SCIE收录情况：有 |
| SSCI收录情况：无 |
| A&HCI收录情况：无 |
JCR学科及分区 ： |
→SCIE：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE(Q3)
→SCIE：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(Q3)
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ESI期刊信息
| ESI刊名缩写：IEEE DES TEST |
| ESI学科：COMPUTER SCIENCE |
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中科院分区信息
| 学科大类及分区：计算机科学(4) |
| 学科小类及分区：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE(计算机：硬件 :4) |
| 学科小类及分区：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(工程：电子与电气 :4) |
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